OPTICAL TESTING INSTRUMENTS DEFACTO STANDARD

ImageMaster® Pro5 Wafer

ImageMaster® PRO10 Wafer

量産用全自動MTF測定装置

Image Master PRO10 Waferは、高精度小型カメラレンズやウェハーレベルのカメラレンズを対象とした量産用全自動MTF測定装置です。Lens-on-Waferの全数MTF合否判定を行う仕様です。マーカを2台搭載しウェハ位置調整及びソフトにて全てのレンズ座標位置を簡単に作成し、完全自動MTF測定と合否判定を行います。
最大27箇所のカメラにより高速かつ同時にLSF-FFT処理を行うことで高周波までのMTFを瞬時に測定します。
PRO10 Waferは一度の取込みにて軸上オートフォーカス時間を含め高周波(~400lp/mm)まで約1.3秒で測定します。

ImageMaster® PRO 5 Wafer measurement chamber

ImageMaster® Pro5 Wafer

製品カタログ日本語版